Corporate Identity High Quality Service 하이셈 성장전략 Full Line up

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0 HISEM! More More More, Improvement and Customer Satisfaction
More More More, Improvement and Customer Satisfaction HISEM! 품질과 생산성 향상으로 끊임없는 개선과 고객만족을 목표로 ! HISEM

1 Corporate Identity High Quality Service 하이셈 성장전략 Full Line up
Prologue <DRAM> <NAND> <SYSTEM IC> 세계 최고의 경쟁력을 갖춘 반도체 전문 테스트 하우스 하이셈 성장전략 Full Line up DRAM NAND SYSTEM IC 반도체 後 공정 테스트 시장으로! 테스트 전문화 High Quality Service Competitiveness Network 우수 인재 확보 테스트 분야 특화 기업 최신 생산시설 보유 SK하이닉스 협의회 회원사 공동출자 기업이 갖는 시너지 효과

2 01. 회사 소개 회사 개요 회사명 주식회사 하이셈 (HISEM Co., Ltd.) 홈페이지 www.hisem.co.kr
Company Overview 회사 개요 대표이사 장 성 호 회사명 주식회사 하이셈 (HISEM Co., Ltd.) 홈페이지 설립일 2007년 06월 20일 본사/공장 경기도 안성시 일죽면 서동대로 대표이사 장 성 호 임직원 130명 자본금 6,534백만원 생산품목 DRAM, NAND TEST System IC Test 등 [주요 이력] - 現 주식회사 하이셈, 대표이사 - 前 현대전자(現 SK하이닉스) - 前 삼성반도체

3 HISEM! 02. 회사 연혁 More More More, Improvement and Customer Satisfaction
Company History More More More, Improvement and Customer Satisfaction 도약기 KOSDAQ 상장 Nand flash PGM service System IC Test service LPDDR2 PGM service Probe Test service ISP14001/OHASA18001 인증 본사 공장 준공 및 이전 2012 ~ 현재 HISEM! 성장기 G-DDR5 Test service Micro SD Card Test service MCP Memory Test service DDR3 Memory Test service 2009 ~ 2011 설립기 DDR2 Memory Test service 기업부설연구소 인증 TS16949 인증 Hynix Site Qual Pass 생산자동화시스템(MES) 구축 ISO9001;2000 인증 NAND Flash 인증 ㈜하이셈 설립 2007 ~ 2008 03

4 Memory 반도체 및 System IC Test Service
03. 하이셈 사업 영역 Business Domain Memory 반도체 및 System IC Test Service IV. Package Test III. Assembly II. Probe Test I. Fab Process 주요 사업 : Test Service Test 공정 Hot/Cold Temperature에서 반도체의 전기적 특성을 검사하여 양품과 불량품을 판별하는 공정 EOL(End Of Line) 공정 Test 완료된 양품의 최종 출하 전 Device 표면에 제품명을 각인하고 Lead & Ball 검사 후 제품이 안전하게 이송될 수 있도록 Packing을 하는 공정

5 04. Test 보유 장비 MODEL Maker SPEED PRODUCT Tester T5503 ADVAN 1.1GHz
DDR3 T5593 533MHz T5588/T5588s 425MHz DDR2,3 T5585 250MHz DDR1 T5581 T5377/77s 143MHz DDR1, Nand Flash Nextest Magnum ssv Teradyne 100MHz Nand Flash SX-3030 SPANDNIX 50MHz Analog IC J750-EX HD 400MHz SOC IC Handler M510/M330 MIRAE Memory TW312 TECHWIING M6300/6741A NS-8080 EPSON Pick & Place Z248 SRM Bowl Feeder Prober UF 3000 TSK 8”/12” Wafer EOL MARKING SLM-27T/SY-2002 SAMIL LIS CI-T120 I-COS IPIS-300 INTEKPLUS TAPE & REEL HQ-8000 Hi-Q Eng BAKE OVEN TSO-250 1FIRST LCS SMC-2700 AUTO FILLING FLM-28 DRY PACKING SP-650 HanWooMul

6 05. SYSTEM IC Platform

7 Small Size QFN, BGA, SOP Discrete etc
06. SYSTEM IC Road map 2013 2014 2015 Tester Handler PKG Type Spandnix SX-Series (Analog, Power IC, RF etc) Teradyne J750 (High Speed, Mixed, MCU etc) Pick & Place (Epson NS8080) Bowl & Tube Feed (SRM Z248) QFP, QFN, BGA etc (3X3 over) Small Size QFN, BGA, SOP Discrete etc (3X3 Under)

8 07. Analog Test Measure: DNL,INL, SNR INPUT Sine-wave Item Features
Technical Perfomance Item Features Board 제작 Impedance를 고려한 Signal Line 배치 4 Site balance ADC Test 20Mhz Sine Wave Input을 Digital로변환 SNR,ENOB, DNL, INL, THD측정 후 판정 ADC Gain Test PLL Test 150Mhz PLL distortion 측정 Differential Transmit Output waveform측정 후 표준 Template를 비교해서 Pass/Fail 판정 Output ADC 1024 data dump to memory Measure: DNL,INL, SNR TCP/IP Core - Hardwired TCP/IP Logic Memory - MEM1 : 32K Bytes Dual Port RAM - MEM2 : 4K Bytes Single Port RAM PHY - 10BaseT/100BaseTX Ethernet PHY embedded PLL (Phase Locked Loop) - Internal Clock Generator - Reference Clock: XI LDO (Low Drop Out) Voltage Regulator - 3.3V to 1.2V Regulator Operating Temperature Range - 20ºC to +85 ºC INPUT Sine-wave

9 Operation Temperature
8. Logic Test Technical Perfomance Item Features Process Core 32Bit CPU Core 1Cycle 32Bit MAC 8KByte I-Cache, 8KByte D-Cache Up to 120MIPS throughput with 120MHz Clock Clock, Reset Power manage. 32K~27MHz osc I/O for external crystal 32KHz osc I/O for RTC external crystal Internal 2 PLL output clock Input 60KHz~2.25MHz/Output max 180MHz POR reset Several Power Modes supported Analog Functions POR (Power On Reset) LDO Brown-Out Detector PLL0(for system), PLL1(for LCD) 1-KSPS 4-ch. Input 12-bit ADC Operation Voltage Voltage 3.0V to 3.6V Operation Temperature Temperature 0℃ ~ 85℃

10 9. 품질시스템 구축 & 인증 Q 2014 KOSDAQ 2013 Apple Site Requal Pass
Quality System Q KOSDAQ 　Apple Site Requal Pass Samsung Site Qual Pass (Memory) POP Test Service Start Certified ISO14001/ OHSAS18001 Apple Site Qual Pass DDR3 DRAM Test Service Start Certified Venture Company Certified ISO/TS16949:2002 DDR2 DRAM Test Service Start Hynix Site Qual Pass Certified ISO 9001 NAND Flash Test Service Start

11 Thank you HISEM.Co.,Ltd ‘More More More, Improvement and Customer Satisfaction, HISEM !’ 품질과 생산성 향상으로 끊임없는 개선과 고객만족을 목표로 !