IEC TC110 WG : Motion Artifact Measurement Methods

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1 IEC TC110 WG2 61747-6-3 : Motion Artifact Measurement Methods
~27 2.6 한국디스플레이산업협회

2 WG2:Liquid Crystal Display Devices Convenor : KATSUMI ISHIGURO
IEC TC110/WG2 Convener : Katsumi Ishiguro(Sharp) WG2 : Liquid Crystal and Solid State Display Devices WG2:Liquid Crystal Display Devices Convenor : KATSUMI ISHIGURO Japan / SHARP Japan IEC TC110 : Flat Panel Display Devices Chairman : Prof. Shigeo Mikoshiba -Japan WG4 : Plasma Display Devices Convenor : Dr.T.Shinoda Japan / Fujitsu Laboratories LTD WG5 : Organic Light Emitting Diode Display Convenor: Jeonro Lee Korea Secretary : Prof.Hideo Iwama Japan / 1.Mitsutaka Morimoto (NEC) 2.Yuji Yoda(OTSUKA) 3.Shuji Maezawa(Seiko Epson) 4.TAKASHI KANEKO(Sharp) 1.Alex V. Henzen (Philips) U.S.A 1.Jongseo Lee (Samsung) 2.Il-Ho Kim(LMS) 3.Gichang Park(SEC) 5. Giseik Park (LGD) 6. Jangrayng Kim (LGD) Netherlands 1.James E,Mattews III (Corning Inc.) German 1.Michael E. Bcker (DMS) Finland

3 IEC TC110 전체 회의 일정 HHG (Horizontal Harmonization Group) : 6/4(목) 18:00 ~ LED BLU Project Team : 6/5(금) 18:00 ~ 3D Project Team : 6/6(토) 18:00 ~ LCD WG2 : 6/5(금) ~ 6/7(일) 2. 참석 인원 현황 HHG 미팅 80% 일본 멤버 LED BLU PT : 한국 55%, 일본 40%(전문가 2명), 기타 5% (미국) 3D PT : 한국 55%, 일본 45% , 기타 10% (미국, 네덜란드) LCD WG2 : 일본 45%, 한국 45%, 기타 10%(미국,네덜란드,대만)

4 IEC TC110 HHG (Horizontal Harmonization Group)
- IEC TC110 에서 진행되고 있는 LCD, PDP, OLED, 3D 의 각 WG별 공통으로 적용되는 사항에 대하여 Harmonization을 이루기 위한 Group - 주요 관심 사항 : 용어 표준 통일, 공통 측정 방법에 대한 통일 LCD의 경우 시야각 측정 방법에 대한 통일화 시도를 적극 저지 하려고 하고 있음. - 주요 토의 내용 : PDP, OLED에서 사용되는 특정 용어에 대한 통일 방안 논의 Country Attendee US Dr. John Penczek, permanent HHG WG5 member, proxy HHG chairman KR Dr. Jongseo Lee, WG2 Expert JP Prof. Emeritus Shigeo Mikoshiba, TC110 Chair Mr. Hideo Iwama, TC110 Secretary Mr. Yoshihiko Shibahara, WG2 observer Mr. Katsumi Ishiguro, permanent HHG WG2 Convener Mr. Masataka Uchidoi, permanent HHG WG4 member Mr. Toru Ando, permanent HHG WG4 member Dr. Junichi Kinoshita, BLU PT Expert Mr. Tatsuya Miyazaki, TC110 2nd Assistant Secretary

5 IEC TC110/WG2 2. LCD WG2 및 관련 회의 - 주요 안건 1) Visual inspection method
- Mura를 제외한 육안 검사 방법에 대한 내용  최종 완성단계 2) Motion artifact measuring method - 동영상 평가 방법 (MPRT)  최종 완성단계 3) Reflective LCD optical measuring method - 반사형 LCD 에 대한 화질 평가 방법  최종 완성단계 4) Glass strength measuring method - Corning에서 제안한 기계적 신뢰성 평가 방법  최종 완성 5) Transmissive LCD optical measuring method - 기존에 제작된 표준화 문건 update 작업 진행  CD 단계 (Committee Draft) - 향후 추진될 문건 논의 1) 미국 Corning에서 Mobile 디스플레이 보호 glass 신뢰성 평가 방법에 대한 문건 제안 2) 한국 삼성전자에서 in-cell, on-cell TSP 장착 LCD 제품의 화질,신뢰성 평가 방법 제안

6 IEC TC110/WG2 3. LCD WG2 회의 - Motion Artifact Measurement Method Comment Review 결과 총 89 건 comments Review CN(3), CZ(1), DE(32), FL(3), JP(13), KR(6), NL(18), US(13) 회의 의결 사항 Draft FDIS 작성 (6월 말) D-FDIS 각국 member들에게 Circulation 기타 의결 사항 이종서 책임 새로운 Project 문건 제안 WG2의 새 문건으로 TSP (Touch Screen Panel) 관련 문건 제안에 TC110 의장 동의 차기 회의에 발표하기로 함 Next Meeting Possible ad-hoc meeting : During FPD International 기간중 TC110 Plenary meeting : 12월 미야자키

7 IEC TC110/WG2 4. 3D Display Project Team 회의 - 주요 토의 내용
1) 한국 삼성전자에서 제안한 3D 화질평가 방법 – autostereoscopic 에 대한 scope 수정에 대한 논의 일본측에서는 세부 기술적으로 문건을 분리해서 작업하기를 제안하였으나, 한국측에서는 무안경식 기술로 크게 문건을 운영하고자 하여 본 회의에서 결론을 토출하지 못하였음 문건을 세부적으로 나눠 운영할 경우 한국측에서 전체적인 무안경식 방식의 주도권을 가져올 수 없음 일본측에 안경 방식의 문건 작업을 양보하는 대신 무안경식 방식은 한국의 의견을 따르게 하는 방식으 로 추진 전략 구상 2) 한국과 일본 측에서 3D 디스플레이 terminology 동시 제안하여, 향후 이 문건의 project leader 선정 문제도 해결해야 할 숙제로 남음 3) 3D 디스플레이 화질평가,분석 방법의 경우 ISO, ICDM, IEC등 모든 표준화 단체에서 추진하고 있는 상황인 만큼 이 부분의 주도권을 한국으로 가져오는 것이 매우 중요한 부분임

8 경청해 주셔서 감사합니다. Thank You!