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Progress Seminar ~ Ji Soo LEE
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연구 진행 상황 보고서 CGMS ECMO UXN (최소침습) 테크포엠 (비침습) 2주전 계획 연구 결과 문제점 및 대책
데이터 재수령 - 정리 하드웨어 제작 Labview 프로그래밍 (진행 중) SvO2 센서 실험 KTL 출장 - 시험검사 일정 및 진행 검토 - 성능시험 항목 조정 플라즈마 처리 펌프 수령 - 프라이밍 테스트 문제점 및 대책 목표 및 계획 데이터 정리 기기 제작 기기, 프로그램 제작 및 테스트 완료 Knob 교체
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[Tech4M CGMS] 하드웨어 Schematic Spec. 8 bit DAC PCB PC (or Smartphone)
정전류회로 추출전극 SPI MCU SPI ADC TIA+Amp. 3전극 UART BLE Potentio-stat PCB RF Labview 신호처리 : DAC 전압 조절 : data 수령 PC (or Smartphone) Wide supply low power op-amp 추출전극전류 0~0.5mA labview 제어 RE oxidation voltage 400mV 전류 측정 범위 0~1000nA 측정 해상도 약 1nA
![[Tech4M CGMS] 하드웨어 Schematic Spec. 8 bit DAC PCB PC (or Smartphone)](http://slidesplayer.org/slide/16540578/96/images/3/%5BTech4M+CGMS%5D+%ED%95%98%EB%93%9C%EC%9B%A8%EC%96%B4+Schematic+Spec.+8+bit+DAC+PCB+PC+%28or+Smartphone%29.jpg "정전류회로. 추출전극. SPI. MCU. SPI. ADC. TIA+Amp. 3전극. UART. BLE. Potentio-stat. PCB. RF. Labview. 신호처리. : DAC 전압 조절 : data 수령. PC (or Smartphone) Wide supply low power op-amp. 추출전극전류. 0~0.5mA labview 제어. RE oxidation voltage. 400mV. 전류 측정 범위. 0~1000nA. 측정 해상도. 약 1nA.")
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[ECMO] KTL 시험검사 총 80% 정도 진행 온도 시험 부적합 판정 : 순환 루프 변경 I/P 등급 시험 제외
성능시험검사 : 시험방법, 조건 및 항목 설정의 의미 제시 : 적/부 판정 기준치를 구체적으로 설정 : 기준치 설정의 근거 제시
![[ECMO] KTL 시험검사 총 80% 정도 진행 온도 시험 부적합 판정 : 순환 루프 변경 I/P 등급 시험 제외](http://slidesplayer.org/slide/16540578/96/images/4/%5BECMO%5D+KTL+%EC%8B%9C%ED%97%98%EA%B2%80%EC%82%AC+%EC%B4%9D+80%25+%EC%A0%95%EB%8F%84+%EC%A7%84%ED%96%89+%EC%98%A8%EB%8F%84+%EC%8B%9C%ED%97%98+%EB%B6%80%EC%A0%81%ED%95%A9+%ED%8C%90%EC%A0%95+%3A+%EC%88%9C%ED%99%98+%EB%A3%A8%ED%94%84+%EB%B3%80%EA%B2%BD+I%2FP+%EB%93%B1%EA%B8%89+%EC%8B%9C%ED%97%98+%EC%A0%9C%EC%99%B8.jpg "성능시험검사 : 시험방법, 조건 및 항목 설정의 의미 제시 : 적/부 판정 기준치를 구체적으로 설정 : 기준치 설정의 근거 제시.")
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