IEC TC110 WG2 61747-5-2 : Visual Inspection of Active Matrix Color LCD Modules 2009. 6. 26~27 2.6 한국디스플레이산업협회
IEC TC110/WG2 WG2 : Liquid Crystal and Solid State Display Devices Convener : Katsumi Ishiguro(Sharp), Assistant Secreatry for WG2 : Yoshihiko Shibahara Part 5-2: Environmental, endurance and mechanical test methods – Visual inspection of active matrix colour liquid crystal display modules 1. IEC TC 110 WG 2 33차 국제회의 ㅇ 회의 일시 : 2009. 6. 5(금) - 7(일) (09:00~17:00) ㅇ 장 소 : 메리어츠 리버센터 호텔 Room #8 ㅇ 참석자 : 18명(유첨 참석자 명함 사본) - 한국 : 6명(김일호, 홍형기, 박현욱, 이종서, 전상규, 조미령 ) - 해외 : 12명 (일본8명, 네델란드2명, 미국1명, 대만1명) 2. 회의 결과 요약 ㅇ 주요 내용 - CDV Comments Review 및 FDIS 단계 준비 - Horizontal Harmonization의 필요성 - 문건의 향후 Structure ㅇ 향후일정 - 2009년 6월 중으로 FDIS 제출하고, 차기 회의시 Voting 결과 논의하기로 함 - 차기회의 일정 : 일본 미야자끼, 2009 12월 HHG : 6(토)오후, 9(화)오전, LCD WG : 8(일)~9(월), Plenary Meeting : 9(화) 오후 1/5 1
IEC TC110/WG2 Part 5-2: Environmental, endurance and mechanical test methods – Visual inspection of active matrix colour liquid crystal display modules Convenor : Mr. Katsumi ISHIGURO Sharp Corporation, E-mail: ishiguro.katsumi@sharp.co.jp Project Leader : Mr. Il-Ho KIM Light Measurement Solution Co., E-mail: ihkim@lmscorp.co.kr Members : Sun ZHENGMIN zmusun@163.net, Markku LAMBERG markku.lamberg@nokia.com Michael E. BECKER m.becker@display-metrology.com, Günter LENHARDT guenter.lenhardt@de.bosch.com, Mitsutaka MORIMOTO morimoto@flatdisplay.jp, Shuji MAEZAWA maezawa@flatdisplay.jp Yong-Bae KIM yongbae@kkucc.konkuk.ac.kr, Il-Ho KIM ihkim@lmscorp.co.kr Jong-Seo LEE jongseo2.lee@samsung.com, Ki-Suk PARK kspark2001@lgphilips-lcd.com Alex V. HENZEN alex.henzen@philips.com William A. ROWE warowe@aol.com, James E. MATTHEWS Ⅲ matthewsje@corning.com 2/5
IEC TC110 CDV Voting results and Comments 1) CDV Voting 결과 Approved 되어 FDIS 단계를 위한 Comments review 및 FDIS Draft Documents 를 작성함 Approval Criteria Result P-members voting: 9 P-members in favour: 9 = 100 % >= 67% APPROVED Total votes cast: 15 Total against: 0 = 0 % <= 25% Final Decision: 2) 주요 Comments Review - Comments 분류 : 중국 3건, 한국 5건, 네덜란드 6건, 미국 1건 General & Editorial : 14건, Technical : 1건, IEC Editor Comments - Mura : 현 문건에서 언급하고, study를 지속적으로 진행하고 논의하여 향후에 Mura를 포함한 내용을 amendment 하기로 함 - 장비에 의한 객관적 평가법 : study를 지속적으로 진행하고 논의하여 기술이 가능한 단계에서 신규 문건으로 진행 하기로 함 - Horizontal Harmonization : OED WG과 협의하였으며, FDIS 일정이 촉박하여 향후에 Amendment 시 align하기로 함 3/5
IEC TC110/WG2 2. 기존 규격 및 현 규격의 비교 1) 기존 규격 ; Segment LCD Panel 및 LED등 반도체 소자의 시험방범 LIQUID CRYSTAL AND SOLID-STATE DISPLAY DEVICES- Part 5: Environmental, endurance and mechanical test methods – - 이물, Pad 손상, Glass Crack, Seal 손상, Segment 손상등 2) Visual inspection of active matrix colour liquid crystal display modules - OA, TV등 고화질 및 고해상도의 Color Active Matrix LCD 재료 부품(액정, Pol, Glass 등) Cell 공정 및 공정재료, Module(구동 기술, 주요 부품) Backlight (Lamp, Inverter, 광학 Sheets, 구동 기술 등)
IEC TC110/WG2 3. 향후의 Structure Structure of Part-5 Part-5 Environment endurance and mechanical test 5-1: No Document 5-2: Visual inspection for checking the DUT before/after of test : FDIS 5-3: Glass strength : FDIS 5-4: Temperature/humidity (High/low temp & humidity, Temp Cycle, Thermal shock, Altitude test, ) 5-5: Mechanical – Vibration, Shock, Drop, Bending, 5-6: Life time test – MTBF, HALT New Part Part-7 Visual (Subjective) Inspection Method Visual inspection for “FOS (Front of Screen)”or “Visual Image Quality” 5/5
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