회 사 소 개 서 ㈜나 노 시 스 템.

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1 회 사 소 개 서 ㈜나 노 시 스 템

2 목 차 Ⅰ. 회 사 개 요 Ⅱ. 회 사 연 혁 Ⅲ. 조 직 도 Ⅳ. 주 요 사 업 Ⅴ. 경 쟁 력
목 차 Ⅰ. 회 사 개 요 Ⅱ. 회 사 연 혁 Ⅲ. 조 직 도 Ⅳ. 주 요 사 업 Ⅴ. 경 쟁 력 Ⅵ. 주 요 제 품 – NanoView Series

3 Ⅰ. 회 사 개 요 회 사 명 주식회사 나노시스템 (홈페이지 : www.nanosystemz.com) 대표이사 이 형 석
이 형 석 설 립 일 2003년 4월 24일 사업분야 비접촉표면 형상 측정 · 검사 장비 분야 CSP · FCBGA Substrate 검사 분야 LCD 공정용 검사 · 측정장비 분야 생산제품 비접촉 3차원 표면 형상 측정기 주 소 대전광역시 유성구 관평동 698번지

4 Ⅱ. 회 사 연 혁 2008년 2007년 2006년 2005년 2004년 2003년 09월 첨단기술지업 지정 (지식경제부)
09월 첨단기술지업 지정 (지식경제부) 07월 자본금 증자 (3억 → 6억) 05월 우수협력업체 선정 (삼성코닝정밀유리주식회사) 03월 사옥 완공 ·본사 이전 (대전광역시 유성구 관평동 698) 2008년 05월 CE인증 획득 (제품명 : NVM-4151P/NVM-5161P 인증번호 : K1492/E06) 08월 특허 등록 (특허 호) 2007년 06월 수출유망중소기업 지정 (중소기업수출지원센터) 09월 유망중소기업 인증 (대전광역시) 10월 특허 등록 (특허 호) 11월 기술혁신형 중소기업(INNO-BIZ) 선정 (중소기업청) 11월 CE인증 획득 (제품명 : NVE 인증번호 : K1491/E06) 2006년 06월 Nidec Read社(일본) 사업 제휴 체결 12월 본사 이전 (대전광역시 대덕구 신일동 ) 2005년 01월 기술개발시범기업 선정 (중소기업은행) 02월 기업부설연구소 설립 (한국산업기술진흥협회 제 호) 09월 해외 수출 (일본) 11월 우수상품 선정 (대전광역시) 12월 ISO9001:2000 품질인증 획득 (인증번호 : K-QA-Q041816) 2004년 04월 주식회사 나노시스템 설립 09월 한국과학기술원 신기술창업지원단 입주 10월 벤처기업 등록 11월 본사 이전 (대전광역시 대덕구 신일동 벤처타운 장영실관) 11월 제5회 창업보육센타 입주기업 전국 경연대회 최우수상 수상 (중소기업청) 12월 우량기술기업선정 (기술신용보증기금) 2003년

5 ㈜나노시스템 조직도 C E O 장비사업부 자문위원회 영업팀 경영지원팀 HW팀 CS팀 SW팀 연 구 소 고객지원
㈜나노시스템 조직도 C E O 자문위원회 장비사업부 영업팀 경영지원팀 HW팀 CS팀 SW팀 연 구 소 고객지원 (B/S·A/S) 국내영업 경영기획 기구설계 SW 개발 원천기술 해외영업 인사 / 총무 전장제어 Field Test 장비개발 영업관리 구 매 장비제작 재무 / 회계 품질관리

6 Creative Non-Contact 2D/3D Inspection Solution
Ⅳ. 주 요 사 업 Creative Non-Contact 2D/3D Inspection Solution Surface Profile Measurement Fiber Array Semiconductor Stud Bumping BGA MEMS Abrasion Build-up PCB Inspection Roughness Cu Pad Line Profile Via Hole Cu Thickness LCD Panel Inspection Post Spacer Character RGB Back Panel Spray PR

7 Ⅴ. 경 쟁 력 Nano View Series 비접촉 3차원 측정 기술 핵심기술 구축 측정·검사장비 개발
Ⅴ. 경 쟁 력 비접촉 3차원 측정 기술 핵심기술 구축 측정·검사장비 개발 공급 고객Needs 충족 Nano View Series 비접촉 미세 형상 측정기기 상용·전문화 신속한 고객 지원 Service 체계 구축

8 Ⅵ. 주 요 제 품 - Nano View Series
High Accuracy Non-Contact 3D Surface Profiler

9 Ⅵ. 주 요 제 품 - Nano View Series
NVM – 4151 (기판표면형상측정장치)

10 Ⅵ. 주 요 제 품 - Nano View Series
NVM – 주요 기능 기판상의 비아홀 형상·Patten 형상(Tracer, Ball Pad) 표면조도 전자동 측정 장비 ▷ 자동 실행 : Align, Auto Focus ▷ 검살 결과 : 화면상 표시 및 PC 보존 → 통계 해석 가능 ▷ 백색광 간섭 : 비접촉 고정도의 3차원 측정 가능 ▷ Area CCD 카메라 사용 : 화면상의 FOV 영역 일괄 고속 측정 ▷ 독자적인 알고리즘 : 고속·고정도의 3차원 형상 측정 실현 ▷ 시야 사이즈 가변 : 대물 렌즈 / FOV 렌즈 교환 Ⅰ II III IV ▷ 높은 단차 측정 가능 : 최대 5mm (Option) Ⅴ

11 개 발 - Nano View Series NVM – 6060