VESA FPDM meeting 결과 발표 2005. 06 16 삼성전자 이종서.

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VESA FPDM meeting 결과 발표 2005. 06 16 삼성전자 이종서

FPDM update preview

목 적 : 현재 동영상 평가 방법의 표준화에 대한 국제적 관심이 높은 가운데 가장 먼저 이에 대한 표 VESA 회의 결과 목 적 : 현재 동영상 평가 방법의 표준화에 대한 국제적 관심이 높은 가운데 가장 먼저 이에 대한 표 준화 작업을 진행하고 있는 VESA FPDM Working group에서 현재 Flat panel display 측정 참고 자료로 널리 사용되고 있는 FPDM ver. 2.0을 ver. 3.0으로 개정하기 위한 회의 참가 2. 일시 및 장소 : 2005년 2월 14 - 16일 : Milpitas, CA VESA 본부 참석인원 : 총 15명의 멤버 참석 (13개의 회사) 회사명 : Corning, Dupont, Genesis Microchip, Hitachi USA, NASA, Nokia-Japan, Sun Microsystem, ViewSonic, Westar, Samsung Elec., Samsung info. Systems, Otsuka, LMS, NIST 회의 내용 - 현재 Ostuka에서 개발한 MPRT-1000 장비를 대체할 방법에 대한 논의가 있었음. - 대부분 Smooth Eye Tracking 현상을 이용한 장비개발이 아닌 Math를 통한 Simulation 방법 개발 - 2월 말까지 Motion Artifact Measurement에 대한 기본 문서를 작성키로 함 - 3월부터 Round robin test를 통한 측정 방법에 대한 검증 절차가 이루어 질 예정 - Sun Microsystem과 Nokia Japan에서 sample monitor를 제공하여 같은 모니터로 측정 예정  

- 시야각에 따른 Color shift 측정을 위한 기준 color 선정 및 허용 기준치 선정에 관한 문제 제기 함 - 동영상 외에 논의 된 측정관련 사항 1) Color shift 측정 - 시야각에 따른 Color shift 측정을 위한 기준 color 선정 및 허용 기준치 선정에 관한 문제 제기 함 - 기준 color : RGBCMY,White, Black, Blue sky, human skin, Tree색 추가 총 11개 색 - 허용 기준치 선정 : 향후 이와 관련된 전문가와 상의 후 결정 키로 함. 2) Gamma value 계산 - 현재 gamma value 산정 시 VESA FPDM ver. 2.0에서 언급되어 있는 방법이 2가지 이여서 이로 인한 혼란이 있는 상황으로 (Linear, non-linear curve fitting) 보다 정확한 non-linear curve fitting으로 통일하자고 제안. - Curve fitting 시 고려되는 correlation coefficient에 대한 기준을 좀더 강화 시켜야 된다고 제안 기존 0.98이상 => 0.99이상으로 3) 시인성을 대표할 만한 새로운 측정항목에 대한 필요성 제안 - Color difference value 사용 제안 4) Display warm up time - 현재 VESA에서 제안하고 있는 Warm up 기준을 좀더 정확하게 하기 위하여 자사가 사용하고 있는 warm up time 방식을 소개, 향후 적용 가능한 지 검토키로 함.  

5. 결 론 - VESA 측에서 진행 중인 동영상 평가 측정에 관한 작업이 좀더 빠르고 정확하게 진행시키기로 함 - 저희 측에서 project leader로 현재 IEC 에서 진행 중인 Motion Artifact Measurement 문건 작성 시 VESA측과 긴밀한 협조를 하기로 함 - Color shift관련하여 저희가 가장 우려하고 있는 Purple관련 색 측정에 대한 내용을 사전 방지 하였음 - Color shift value 선정에 대한 내용은 추후 계속 follow up 할 필요가 있음.

1. VESA 국제 회의 일정 @ Boston 1) 일 시 2005년 5월 26일 2) 장 소 Boston, USA 3) 참 석 자 총 16개회사 23명 참가. 의장 : Joe Miseli (Sun Microsystems) 4) Next Tele-conference meeting 2005. 06. TBA 2. VESA 국제 회의 결과 1) Nokia 및 몇몇 장비업체들이 기존과 다른 새로운 측정 방법 소개 및 review 2) Round robin test 실시에 합의 및 구체적 안 결정

3. MPRT관련 논의 1) PDP의 false contour artifact도 LCD의 overshoot, undershoot 현상과 동일하다고 판단하나, 이 둘을 따로 분리하여 측정하기엔 어려움이 있다는데 동의하였음 2) FPDM 3.0에서는 overshoot이 있을 경우 반드시 report하여 response time이 이로인해 빠르게 나오지 않도록 하기로 함 3) CRT display 경우 실제 눈으로 보는 것 보다 측정 값이 더 크게 나오는 것은 Video amplifier bandwidth 혹은 phosphor decay time에 근거 한다고 판단. 4) 10% - 90%의 범위가 과연 눈의 sensitivity를 잘 대변 할 수 있는지에 대해 논의 하였음(5% - 60, 70%)

4. Round Robin Test 1) 측정 sample : 19” SXGA LCD Monitor (2대), 4” VGA analog LCD (1대) 2) 측정 condition : - Joe Miseli가 최초에 setting한 조건을 그대로 측정하기로 함 - Warm up time은 1시간으로 정함 - Signal input은 DVI port를 이용하기로 함 - 기타 자세한 사항은 추후 논의 키로 함 3) 측정 참여 회사 - Sun Microsystems (의장 소속 회사), Nokia (mobile에 관심), Otsuka (MPRT 장비 제작 업체), Autronics (독일 장비업체), Westar(미국 장비업체), NIST (미국표준기관) - 삼성은 Otsuka와 Autronics와 공동으로 참여키로 함 4) 측정 세부 일정은 다음 회의 때 setup 하기로 함