Tokyo / San Francisco Meeting Report IEC TC110 WG5 Tokyo / San Francisco Meeting Report 2006년 6월 29일 이창희(서울대), 이정노(삼성SDI)*, 김광영(LGE), 노병규(현대LCD), 박재용(LPL), OLED WG. Electronic Display Industrial Research Association of Korea EDIRAK 한국디스플레이연구조합

Electronic Display Industrial Research Association of Korea Tokyo Meeting Electronic Display Industrial Research Association of Korea EDIRAK 한국디스플레이연구조합

Electronic Display Industrial Research Association of Korea Contents General Information of Meeting Convener Confirmation Minutes of Edinburgh Meeting Discussion Terminology and letter symbols Measuring Methods of Optical and Optoelectrical Parameters Generic Specification Environmental and Endurance Test Method Visual Quality Other Issues and Next Meeting Summary Electronic Display Industrial Research Association of Korea EDIRAK 한국디스플레이연구조합

IEC TC110 WG5 Tokyo ad-hoc Meeting 참석자 : 총 17 명 (한국-7, 일본-7, 중국-1, 미국-1, 핀란드-1) 장소 : JEITA 306, 314호, Tokyo, Japan 일시 : 2006. 2.15~17 (09:00~18:00) Country Member Korea 이창희 교수 (서울대) :WG5 Convener 이정노 책임 (삼성SDI) Project Leader: IEC 62341-1-1 김광영 책임 (LG전자) Project Leader: IEC 62341-5 노병규 선임 (현대LCD) 박재용 선임 (LG Philips LCD) 김규태 차장 (Display Chips) 김기범 박사 (동경공대) Japan Dr. Kenichi Shibata (Sanyo) Project Leader:PT62341-1-2 Mr. Takahisa Tanabe (Pioneer) Mr. Masami Tsuchida (Pioneer) Mr. Nobutoshi Asai (Sony) Ms. Ayumi Ikeda (Espec Corp) Mr. Yoshiharu Chikazawa(Tomson) Mr. Yuji Yoda (Otsuka Electonics) China Prof. Tongsheng Mou (Zhejiang Univ) Proxy Project Leader:PT62341-6 USA Dr. John Penczek (DuPont Displays) Finland Dr. Johan Bergquist (Nokia)

2. Progress of WG5 Projects and Agenda 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 IEC 62341-1-2 Terminology and letter symbols (K. Shibata) IEC 62341-1-1 Generic Specifications (J. N. Lee) IEC 62341-6 Meas. Methods of Optical and Optoelectrical Parameters (L. Wang) IEC 62341-5 Environmental and mechanical endurance test methods (K. Y. Kim) PWI IEC 62341-6-2 Meas. Methods of Visual Quality (J. Penczek ) 47C/272/NP 2002. 2. 22 110/20/CD 2004. 4.23 110/56/CD 2005. 6.10 CDV 2005. 6 47C/291/NP 2002. 12. 20 110/38/CD 2004. 12. 3 110/68/CD 2005. 12. 2 CDIS 2006. 10 47C/290/NP 2002. 12. 20 110/55/CD 2005. 5.20 CDIS 2006. 10 110/57/NP 2005.1.8 1st CD 2006. 11 CDV 2007.11 FDIS 2008.11 PWI 2006.1.20 1st CD 2007. 10 FDIS 2010.6

IEC 62341-1-1 Generic Specification 2005. 05. 19. : 1st Discussion about comments on 1st CD 2005. 09. 22. : 2nd Discussion about comments on 1st CD 2005. 09. 26. : IEC62341-1 f1  IEC62341-1-1 2005. 12. 02. : Circulation of 2nd CD 2006. 02. 17. : Tokyo Ad-hoc meeting (Today) Target Schedule 2006. 03. 03. : Closing of comments for 2nd CD 2006. 06. : Discussion for CDV (San Francisco) 2006. 09.(?) : Confirm CDV document (Jeju(?)) 2006. 10. : Submit the CDV document

IEC 62341-1-1 Generic Specification 2006. 1. 27. 일본측에서 보낸 35개 수정 의견에 대하여 논의 주요 안건 환경 신뢰성 시험은 60068 대신 김광영 책임의 IEC62341-5를 인용하기로 함. 내구성 시험에 대해서는 환경신뢰성 시험과 분리하여 ‘under consideration’이라고 표기함. 표준 시험 환경에 있어서 상온의 조건에 대하여 협의 끝에 현재의 25 ºC ± 3 ºC를 그대로 유지하기로 함.

토의 내용 IEC 60068  IEC 62341-xx로 변경 3.6 ageing의 의미를 terminology의 내용과 일치하게 변경 ⇒detecting and removing potential early failure 제거 B4/C4: interconnection ability ⇒mechanical and/or electrical interconnection example을 추가 Endurance test time1 000h: 근거 조사 후 공유 7.2.2 drawing에 대해 부연 설명 ⇒ the specified drawing  the drawing in the product specification “Subcontracting”, “Validity of release” 추가 여부 추후 협의 7.4 Image quality inspection: 삭제 여부 Dr. Penczek과 협의

(2) Terminology and letter symbols 토의 내용 Digital driving, PAM 항목 추가 Full color display: 260K or 65K color Charge carrier density ⇒ mobile electrically charged elements  mobile electrons and/or holes Dot electrode에서 signal electrode line data line Panel substrate에서 plate  supporting material OLED module에서 optical film 개념 추가 Acceleration coefficient 항목 추가 Aspect ratio에서 screen size  active size Mura에서 from one part of a screen to another  from one part of an active area to another

(3) Measuring method of Optical and Optoelectrical Parameters Bright condition의 기준을 한 가지로…… ⇒ 100 lx & 500 lx  500 lx Dark room condition ≤ 1 lx Method for maintain B/R condition의 두 가지 방법 ⇒1) fluorescent lamps, 2) integrating sphere/hemisphere Luminance와 chromaticity의 uniformity Luminous efficacy에 대한 새로운 측정법 제시  Project Leader의 불참 및 member 변동으로 지속성과 추진력이 떨어짐.

(4) New Work Items: Korea NC Title: Environmental and mechanical endurance test methods OLED module  OLED display module로 변경 고온보관: 80℃~30℃  100℃~30℃ 저온구동: -30℃까지로 keep. Damp heat test: IEC 60068-2-66  IEC 60068-2-78로 reference 변경 온습도 cyclic test: IEC 60068-2-30: large size, IEC 60068-2-38: small size UV 조건에 대한 추가 test, data 필요, 추후 협의 ESD에서 보관인지, 구동인지 명기 필요, 추후 협의 Transportation ISO 참조하여 작성하며, salt mist test 보완

(5) New Work Items: USA NC Title: Measuring Methods: Visual Quality Visual Quality에 대하여 - Image sticking - Viewing angle range - Cross talk - Flicker - Moving edge blur - Day light contrast ratio 등을 내용으로 제한할 것으로 협의

3. Document of Tokyo Meeting TOK 01: Draft agenda for the TC110/OLED Tokyo Meeting 2006 TOK 02: Membership of the TC 110/PT 62341-1: IEC 62341-1/F1 and F2 TOK 03: Membership of the TC 110/PT 62341-6: IEC 62341-6 TOK 04: Unconfirmed Minutes of the Boston Meeting (May 2005) TOK 05: 110/68/CD (2nd CD) IEC 62341-1-1 Ed. 1.0: Organic Light Emitting Diode Displays - Part 1-1: Generic Specifications (revised on Feb. 13, 2005) TOK 06: JP comment on the 2CD of OLED Generic Specifications TOK 07: Revised version of 110/56/CD (revised on Feb. 13, 2005) - IEC 62341-1-2 Ed. 1.0: Organic Light Emitting Diode Displays - Part 1-2: Terminology and letter symbols TOK 08: Draft for discussion at Tokyo meeting 20060213 (OLED Terminology and letter symbols) TOK 09: Revised version of 110/55/CD (revised on Jan. 10, 2006) - 110/55/CD IEC 62341-6 Ed. 1.0 Organic Light Emitting Diode Displays - Part 6: Measuring Methods of Optical and Optoelectrical Parameters TOK 10: 110/57/NP IEC 62341-5 Ed. 1.0 Organic light emitting diode displays - Part 5: Environmental and mechanical endurance test methods TOK 11: PWI 62341-6-2 Ed. 1.0 Organic Light Emitting Diode (OLED) Displays - Part 6-2: Measuring Methods of Visual Quality

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Electronic Display Industrial Research Association of Korea Contents General Information of Meeting Progress of WG5 Projects and Discussion 62341-1-2 Terminology and letter symbols 62341-1-1 Generic Specification 62341-6 Measuring Methods of Optical and Optoelectrical Parameters 62341-5 Environmental and Endurance Test Method 62341-6-2 Visual Quality Other Issues Documents List Electronic Display Industrial Research Association of Korea EDIRAK 한국디스플레이연구조합

General information of San Francisco Meeting 장소 : Pacific A, Marriott, San Francisco, USA 일시 : 2006. 6. 1~3. (09:00~18:00) Country Member Korea 이창희 교수 (서울대) :WG5 Convener 이정노 수석 (삼성SDI): Project Leader: IEC 62341-1-1 김광영 책임 (LG전자): Project Leader: IEC 62341-5 노병규 차장 (현대LCD) 박재용 선임 (LG Philips LCD) 최정현 과장(EDIRAK) Japan Mr. Takahisa Tanabe (Pioneer): Proxy Project Leader IEC 62341-1-2 Ms. Ayumi Ikeda (Espec Corp) Mr. Yuji Yoda (Otsuka Electonics) Mr. Masaharu Iwakawa (Otsuka Electronics) China Dr. Yudi Gao (Visionox): Proxy Project Leader IEC 62341-6 Prof. Genyu Ying (Tsinghua University) USA Dr. John Penczek (DuPont Displays): Project Leader IEC 62341-6-2 Dr. Kevin Gahagan (Corning) Finland Dr. Johan Bergquist (Nokia) 참석자 : 총 15 명 (한국-6, 일본-4, 중국-2, 미국-2, 핀란드-1)

2. Progress of WG5 Projects and Discussion 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 IEC 62341-1-2 Terminology and letter symbols (K. Shibata) IEC 62341-1-1 Generic Specifications (J. N. Lee) IEC 62341-6 Meas. Methods of Optical and Optoelectrical Parameters (L. Wang) IEC 62341-5 Environmental and mechanical endurance test methods (K. Y. Kim) PWI IEC 62341-6-2 Meas. Methods of Visual Quality (J. Penczek ) 47C/272/NP 2002. 2. 22 110/20/CD 2004. 4.23 110/56/CD 2005. 6.10 CDV 2005. 6 47C/291/NP 2002. 12. 20 110/38/CD 2004. 12. 3 110/68/CD 2005. 12. 2 CDIS 2006. 10 47C/290/NP 2002. 12. 20 110/55/CD 2005. 5.20 CDIS 2006. 10 110/57/NP 2005.1.8 1st CD 2006. 11 CDV 2007.11 FDIS 2008.11 PWI 2006.1.20 1st CD 2007. 10 FDIS 2010.6

IEC 62341-1-2 Terminology and letter symbols Project Leader인 Sanyo사의 Kenichi Shibata의 불참으로 Pioneer사의 Hironori Tanabe가 임시 리더로 참석 현재 CDV가 작성되어 circulation 중이므로, 별도의 논의는 하지 않음.

IEC 62341-1-1 Generic specification 4월 29일 CDV를 제출하였으나, Secretary 및 미국의 추가 comments에 대한 논의를 위하여 7월말로 CDV 제출을 연기 Publish되지 않은 문건에 대한 reference 사용 가능 여부에 대하여 IEC directives를 참조하고, secretary에 문의하여 수정하기로 함.(타 진행 project에도 동시에 적용 예정) 7월말 영문 CDV document를 제출(PL)하고, 9월까지 프랑스어로 번역(Assistant secretary)

IEC 62341-6 Measuring method of optical and optoelectrical parameters 지속적인 PL의 회의 불참으로 Project 진행 늦음. 명실 C/R 측정하기 위한 방법으로 sphere를 이용하는 방법(방법1)을 primary로 하고, 아래 그림과 같이 형광등을 이용한 방법(방법2)을 PDP와 동일하게 적용할 것을 논의 (측정 시스템의 geometry와 조도 조절 방안이 구체적으로 협의) 명실 조건(방법2) 중 100/70 lx를 위한 geometry를 위 그림과 같이 하고, 500 lx는 삭제함. 방법1과 2는 다른 방법이며, 다른 결과를 나타낼 수 있음. ±8 ° 100 70 35 ° ±1 ° 35 °

명실 C/R 측정법 중 sphere를 이용하는 방법1에 대해서, 광원으로는 CIE illuminant A와 D65를 사용하는 것으로 하며, 측정 procedure는 보다 명확하게 수정하기로 함.(D65에 대한 검증 방법도 추가 검토하여야 함.) 소비전력 측정방법 중에서 60%의 full screen luminance 값을 추가함. 측정을 위한 configuration에서 ‘angular aperture’를 명기하고, 암실 조건은 1lx 이하에서 0.3 lx 이하로 변경 ‘Luminous efficacy’에 대한 측정법은 수정하기로 함.  7월까지 수정안을 반영하여 2nd CD를 제출하고, 12월까지 CDV를 제출하는 것을 target으로 추진.(CIE 15, CIE63 구매필요)

IEC 62341-5 Environmental and mechanical endurance test methods Mechanical endurance test 항목을 삭제할 것을 PL(김광영 책임)이 제안하였으며, 결정은 보류. Low temperature storage는 - 50C까지 온도 범위를 수정하고, 기간은 500 h까지 하며 1000 h에 대한 사용 예를 check하기로 함. 신뢰성 테스트를 위한 구동조건은 AF(application factor)를 고려한 Penczek의 안을 반영. Operating test에서 heat dissipating, non heat dissipating 구분하여야 하며 document 반영 검토 (60068-2-1 clause 2에서 표면의 hottest point가 5K이상 높으면 heat dissipating specimen으로 구분) 저온 구동 시험의 구동 시간에 대한 결정은 다음 회의에서 결정 (PDP의 4시간에 대한 배경은 Ikeda가 조사)

HHBT test procedure의 정의는 다음 회의에서.. 온습도 cycle test procedure에 대한 확인(60068-2-38?) 필요. Thermal shock에서 sudden change, specific rate change 중에서 선택 가능하게함.(60068-2-14참조) UV damage 시험에서 ‘UV’보다는 UV A, UV B, visible, IR 영역을 포함하는 sunlight damage로 함.(60068-2-5의 범위 및 procedure 참조) ESD 시험 조건 및 방법은 61000-4-2, 60649-26,-27을 검토하여 정리  60068-2-70, 61000-4-2, 60068-2-14 구매 필요

IEC 62341-6-2 Measuring method : Visual Quality 6. Visual inspection of static images (Dr. Gahagan) 7.1 Image sticking (Dr. J. Lee) 7.2 Viewing angle range (Dr. Penczek & Dr. Bergquist) 7.3 Cross talk (Dr. Penczek) 7.4 Response time (passive and active matrix) (Dr. Bergquist) 7.5 Flicker (Dr. Bergquist) 7.6 Moving edge blur (Dr. Bergquist) 7.7 Daylight contrast ratio (Dr. Penczek) 7.8 Operational Lifetime (Dr. Penczek)

IEC 62341-6-2 Measuring method : Visual Quality Visual inspection 거리를 3mrad를 기준으로 하며, 최소 거리를 300 mm로 함. Image sticking 휘도 변동 기준을 3, 5, 10%로 색변동 기준을 del(u’,v’)로 0.004, 0.01로 검토  통합하여 CIE Lab로 검토… 휘도 및 색차에 대한 인식 시험 결과 정리 필요.(CRT이용 80Hz) Box pattern 사용(peak 휘도 사용가능) 시 white 측정법(구동여부에 따른 차이 분석)과 box 내부 측정(시간에 따른 차이)법에 대한 장단점 논의 Viewing angle range 휘도( 10%) white color(del(u’,v’)>0.01),

Isolated source measurement Ambient C/R Diffue(sky)와 specular(sun)에 대하여 별도 geometry 및 spectrum 검토  Spectral reflectance 측정을 통한 평가 검토 Directed illumnation with a subtense of 0.5° Diffuse measurement (qd = 8° to 10°) Isolated source measurement Diffuse Illumination q s = 45° f = 0° d

수명 휘도(50%), 색도(0.01 or 0.04) 기준으로 검토 Application Factor를 고려하여 측정 휘도 수준을 검토 TV : 12 % Camera : 20% Mobile phone : 30% (pre-gamma 기준 60%) 가속 시험법이나, 외삽 예측에 대해서는 고려하지 않음.

3. Other Issues TC100/TA1/PT – “Measurement of Television Average Power Consumption”  WG5를 대표하여 Dr. John Penczek 대신 박재용 선임(LPL)을 담당자로 선임 차기 회의부터 참석하기로 함. IEC FTP Site 활용  Dr. Kevin T. Gahagan이 IEC ftp site (ftp.iec.ch)의 사용 방법에 대하여 설명 ID : tc110mem, PW : Saturn6 차기 회의  EL2006 (http://www.el2006.org/, 9/18 ~ 9/22, 2006) 에 연계하여 제주에서 개최 Sept. 16 (Sat.)-17 (Sun), 2006. 제주  TC110 General Meeting and WG meeting: IDW2006, Ohtsu, Japan Dec. 3(Sun) WG's meeting (AM & PM) Dec. 4(Mon) WG's meeting (AM & PM) Dec. 5(Tue) WG's meeting (AM); TC110 Plenary meeting (PM)

4. Document of Boston Meeting SF 01: Draft agenda for the TC110/OLED San Francisco Meeting 2006 SF 02: Membership of the TC 110/WG 5 (OLED) SF 03: Unconfirmed Minutes of the Tokyo Meeting (Feb. 2006) SF 04: TC110 WG5 62341-1-1 for CDV application (revised on May 27, 2006) IEC 62341-1-1 Ed. 1.0: Organic Light Emitting Diode Displays - Part 1-1: Generic Specifications SF 05: TC110 WG5 62341-1-1-2CC(Comments): 110/68/CD (2nd CD) IEC 62341-1-1 Ed. 1.0: Organic Light Emitting Diode Displays - Part 1-1: Generic Specifications SF 06: Tentative CDV ver.1 of IEC 62341-1-2 Ed. 1.0: Organic Light Emitting Diode Displays - Part 1-2: Terminology and letter symbols SF 07: Conclusion at Tokyo meeting for IEC 62341-1-2 Ed. 1.0: Organic Light Emitting Diode Displays - Part 1-2: Terminology and letter symbols SF 08: Revised version of 110/55/CD (revised on May 11, 2006) - 110/55/CD IEC 62341-6 Ed. 2.0 Organic Light Emitting Diode Displays - Part 6: Measuring Methods of Optical and Optoelectrical Parameters SF 09: Revised version of 110/57/NP (revised on May 15, 2006) - IEC 62341-5 Ed. 1.0 Organic light emitting diode displays - Part 5: Environmental and mechanical endurance test methods SF 10: Discussion file for 110/57/NP (revised on May 15, 2006) - IEC 62341-5 Ed. 1.0 Organic light emitting diode displays - Part 5: Environmental and mechanical endurance test methods SF 11: PNW-IEC TC110 PT62341 6-2 Ed. 1.0 Organic Light Emitting Diode (OLED) Displays - Part 6-2: Measuring Methods of Visual Quality

Annex. Image sticking Method 1 Method 2 Full patterns Box patterns 10 min 10 min 10 min Full patterns Box patterns Method 2 Measure 10 min Box patterns Measure

full white screen에서 구동부와 비구동부를 측정하여 비교 Issues 비고 Method1 (pattern 변경 + 2pt 이상 측정) full white screen에서 구동부와 비구동부를 측정하여 비교 구동부와 비구동부를 비교할 수 있음.(기판의 aging 효과) 측정 시 warming up 시간이 필요. full white와 box pattern간의 duty ratio 고려해야 함. measurement system의 시간에 따른 오차를 최소화 가능 a-Si 사용 시 등 기판의 변동이 우려될 때 적합 I/S 수준이 높을 경우 Method2 (1pt 연속측정) Box pattern에서 시간에 따른 휘도, 색도의 변화를 측정 warming-up 시간 불필요 measurement system이 시간에 따른 변동이 없어야 함. 측정 자동화 용이 - 기판의 변동이 무시되거나, i/s 수준이 낮을 때될 때 적합 Luminance level of white box (Application Factor) 100 % 30 % 20% 12 %