회 사 소 개 서 ㈜나 노 시 스 템

목 차 Ⅰ. 회 사 개 요 Ⅱ. 회 사 연 혁 Ⅲ. 조 직 도 Ⅳ. 주 요 사 업 Ⅴ. 경 쟁 력 목 차 Ⅰ. 회 사 개 요 Ⅱ. 회 사 연 혁 Ⅲ. 조 직 도 Ⅳ. 주 요 사 업 Ⅴ. 경 쟁 력 Ⅵ. 주 요 제 품 – NanoView Series

Ⅰ. 회 사 개 요 회 사 명 주식회사 나노시스템 (홈페이지 : www.nanosystemz.com) 대표이사 이 형 석 이 형 석 설 립 일 2003년 4월 24일 사업분야 비접촉표면 형상 측정 · 검사 장비 분야 CSP · FCBGA Substrate 검사 분야 LCD 공정용 검사 · 측정장비 분야 생산제품 비접촉 3차원 표면 형상 측정기 주 소 대전광역시 유성구 관평동 698번지

Ⅱ. 회 사 연 혁 2008년 2007년 2006년 2005년 2004년 2003년 09월 첨단기술지업 지정 (지식경제부) 09월 첨단기술지업 지정 (지식경제부) 07월 자본금 증자 (3억 → 6억) 05월 우수협력업체 선정 (삼성코닝정밀유리주식회사) 03월 사옥 완공 ·본사 이전 (대전광역시 유성구 관평동 698) 2008년 05월 CE인증 획득 (제품명 : NVM-4151P/NVM-5161P 인증번호 : K1492/E06) 08월 특허 등록 (특허 10-0751924호) 2007년 06월 수출유망중소기업 지정 (중소기업수출지원센터) 09월 유망중소기업 인증 (대전광역시) 10월 특허 등록 (특허 10-0641885호) 11월 기술혁신형 중소기업(INNO-BIZ) 선정 (중소기업청) 11월 CE인증 획득 (제품명 : NVE-1000 인증번호 : K1491/E06) 2006년 06월 Nidec Read社(일본) 사업 제휴 체결 12월 본사 이전 (대전광역시 대덕구 신일동 1695-2) 2005년 01월 기술개발시범기업 선정 (중소기업은행) 02월 기업부설연구소 설립 (한국산업기술진흥협회 제20041115호) 09월 해외 수출 (일본) 11월 우수상품 선정 (대전광역시) 12월 ISO9001:2000 품질인증 획득 (인증번호 : K-QA-Q041816) 2004년 04월 주식회사 나노시스템 설립 09월 한국과학기술원 신기술창업지원단 입주 10월 벤처기업 등록 11월 본사 이전 (대전광역시 대덕구 신일동 1688-5 벤처타운 장영실관) 11월 제5회 창업보육센타 입주기업 전국 경연대회 최우수상 수상 (중소기업청) 12월 우량기술기업선정 (기술신용보증기금) 2003년

㈜나노시스템 조직도 C E O 장비사업부 자문위원회 영업팀 경영지원팀 HW팀 CS팀 SW팀 연 구 소 고객지원 ㈜나노시스템 조직도 C E O 자문위원회 장비사업부 영업팀 경영지원팀 HW팀 CS팀 SW팀 연 구 소 고객지원 (B/S·A/S) 국내영업 경영기획 기구설계 SW 개발 원천기술 해외영업 인사 / 총무 전장제어 Field Test 장비개발 영업관리 구 매 장비제작 재무 / 회계 품질관리

Creative Non-Contact 2D/3D Inspection Solution Ⅳ. 주 요 사 업 Creative Non-Contact 2D/3D Inspection Solution Surface Profile Measurement Fiber Array Semiconductor Stud Bumping BGA MEMS Abrasion Build-up PCB Inspection Roughness Cu Pad Line Profile Via Hole Cu Thickness LCD Panel Inspection Post Spacer Character RGB Back Panel Spray PR

Ⅴ. 경 쟁 력 Nano View Series 비접촉 3차원 측정 기술 핵심기술 구축 측정·검사장비 개발 Ⅴ. 경 쟁 력 비접촉 3차원 측정 기술 핵심기술 구축 측정·검사장비 개발 공급 고객Needs 충족 Nano View Series 비접촉 미세 형상 측정기기 상용·전문화 신속한 고객 지원 Service 체계 구축

Ⅵ. 주 요 제 품 - Nano View Series High Accuracy Non-Contact 3D Surface Profiler

Ⅵ. 주 요 제 품 - Nano View Series NVM – 4151 (기판표면형상측정장치)

Ⅵ. 주 요 제 품 - Nano View Series NVM – 4151 주요 기능 기판상의 비아홀 형상·Patten 형상(Tracer, Ball Pad) 표면조도 전자동 측정 장비 ▷ 자동 실행 : Align, Auto Focus ▷ 검살 결과 : 화면상 표시 및 PC 보존 → 통계 해석 가능 ▷ 백색광 간섭 : 비접촉 고정도의 3차원 측정 가능 ▷ Area CCD 카메라 사용 : 화면상의 FOV 영역 일괄 고속 측정 ▷ 독자적인 알고리즘 : 고속·고정도의 3차원 형상 측정 실현 ▷ 시야 사이즈 가변 : 대물 렌즈 / FOV 렌즈 교환 Ⅰ II III IV ▷ 높은 단차 측정 가능 : 최대 5mm (Option) Ⅴ

개 발 - Nano View Series NVM – 6060