검사 레포트 참조용 Applications Lab Report No.2 (주)에이텍코리아 Prepared for: …..………. Prepared by: …………… Web: www.atechkorea.com E-mail: atech@atechkorea.com Date: 2011-06-08 Report No. Allied0038 Objective CU/Brass 도금층 측정 Sample Description: 재질: Cu/Brass 내용: 도금층 측정 Process 2-1. Mounting: Cold Mounting [Epoxy-Mount] Glass에 pin을 넣고 epoxybond110을 사용하여 작업 5개의 pin을 고정한 뒤에 clip을 이용하여 고정을 한 뒤에 Epoxy-mount로 작업 2-2. Grinding & Polishing: MetPrep3/PH-3 Individual Pressure Polishing Procedure of Pin(PCB) 검사 레포트 참조용 No.2 (주)에이텍코리아
2-2. Grinding & Polishing: MetPrep3/PH-3™ Individual Pressure Polishing Step 1 2 3 4 5 6 Consumables Abrasive 400Grit 600Grit 800Grit 6㎛ 1㎛ 0.04㎛ Type SiC Poly Diamond Colloidal Silica Carrier Disc Suspension Item Number 50-10025 50-10075 50-10035 90-30025 90-30015 180-25015 Polishing Cloth - GoldLabel White leabel Chempol 90-150-210 90-150-500 180-10050 Coolant Water GreenLube -. 90-209010 Platen Speed /Direction 150 RPM /Comp /Contra AP-3 Speed Force 3lb/mount 5lb/mount Time 1:00 3:00 5:00 * 시편이 Flat하게 될 때까지 polishing을 하십시오. - 각 샘플의 상,하,좌,우의 코팅층 두께 측정. 2-3. Microstructure Analyzing: Olympus BX-51M[Optical] 배율: 50x , 1000x (주)에이텍코리아
3 Results PIN 0.3x0.8_x50 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 0.3x0.8 - 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 0.3x0.8 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
3 Results PIN 0.5x7.4_x50 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 0.5x7.4 - 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 0.5x7.4 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
3 Results PIN 15.1 1_x50 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 15.1 1 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 15.1 1 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
3 Results PIN 15.1 2_x50 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 15.1 2 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 15.1 2 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
3 Results PIN 9.5_x100 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 9.5 - 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 9.5 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
3 Results PIN 24.8 1_x50 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 24.8 1 - 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 24.8 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
3 Results PIN 24.8 2_x50 Sample 좌측부터 1~2번 시편 (주)에이텍코리아
PIN 24.8 2 - 1번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
PIN 24.8 2 - 2번 시편 Pin(Cu/Brass)_BF_1000x 분석위치 상 하 좌 우 (주)에이텍코리아
저희 (주)에이텍코리아 시편분석기술센터에 분석의뢰를 주신 것에 감사합니다. (난이도 제품 Allied 본사에서 측정) 비고 저희 (주)에이텍코리아 시편분석기술센터에 분석의뢰를 주신 것에 감사합니다. (난이도 제품 Allied 본사에서 측정) 본 Report 는 의뢰자가 제시한 시료 및 시료명으로 시험한 결과로서 전체 제품에 대한 품질을 보증하지는 않습니다. 본 Report는 분석 용도 이외에 홍보, 선전, 광고 및 소송용 등으로 사용하실 수 없습니다. (주)에이텍코리아
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