XRF-2000R 성분 분석기/도금두께 측정기(겸용) 다 원소를 비 파괴로 1ppm 에서 100wt% 까지 빠르게 분석

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1 XRF-2000R 성분 분석기/도금두께 측정기(겸용) 다 원소를 비 파괴로 1ppm 에서 100wt% 까지 빠르게 분석
시료의 전처리 없이 고체, 액체, 분말, 박막의 도금두께 측정이 가능하며 시료의 형태나 크기의 제한이 없음 레이저로 정확한 분석 위치 조절 가능한 XYZ 스테이지 장착 숙련자가 아니라도 분석프로그램을 쉽게 사용 가능 저렴한 유지비용과 지속적인 기술지원 제공 다목적 응용분야 RoHS, WEEE, ELV 대응에 최적화된 분석기 정밀, 정확한 금속분석(금, 은, 백금 등 귀금속류) 박막과 다층 도금의 두께측정 시멘트, 석유화학, 제철 제강 분야의 모든 무기물 분석 가능 XRF-2000R 분석 프로그램은 독립적인 윈도우로 구성되어 카메라로 시료를 관찰하면서 정성 정량적으로 분석가능하며 분석결과는 엑셀이나 다른 형태로 저장 가능 카메라로 보이는 분석 지점을 클릭하기만 하면 자동으로 그 위치로 이동하여 분석 XRF-2000R 은 장비의 정확도 및재현성 평가에 필요한 평균값, 표준편차 등의 통계자료를 제공 각종 규제와 제한 지침에 근거한 판단자료를 실시간으로 제공 Micro Pioneer # Dae-Ryung Techno Town, Kasan-Dong, Kumcheon-Ku, Seoul Korea T F

2 XRF-2000R 성분 분석기/도금두께 측정기(겸용) 장비 사양 Micro Pioneer
시료실 크기: 이동식 가로610mm 세로670mm 높이490mm 사용 가능한 유효 면적 가로550mm 세로550mm 높이30mm 엑스선 관 : Rh(Ag, Mo) target, 1-50KV, 1.0mA current. Micro Focused 필터: 자동 전환이 가능한 5개의 필터 콜리메이터: 0.1mm 에서 3.0mm 까지 6개의 콜리메이터를 자동으로 제어 사용자가 콜리메이터를 임의로 선택 가능함 엑스선 검출기: 전자 냉각 방식 PIN diode 액체질소 불필요, 분해능 149eV FWHM at 5.9Kev 영상 시스템: 칼라 CCD 카메라, 배율 20X 콜리메이터 사이즈와 일치하는 원과 십자선 표시 시료 형태: 고체, 액체, 분말, 박막 분석 범위: 알루미늄 Al(13) 에서 우라늄 U(92)까지 1ppm – 100wt% (진공 선택사양) 방사선 안전장치: 시료실 문 개방 시 자동으로 차단 자동 온도 감지 장치 장착 사용 전원: 110/220V AC 50/60Hz 신호 처리기: 디지털 신호 처리, 자동 피크식별, 엑스선 강도 측정을 위한 다양한 필터 보유 두께 보정, 염소 보정, 배경제거 기능 제어 시스템: 데스크 탑 혹은 노트북, XP Vista 운영체계 RoHS WEEE ELV 대응에 최적화된 어플리케이션 FP : 표준시료 없이 30개의 원소를 동시 분석 가능 검량선: 표준시료를 사용하여 6종의 검량선 작성 가능 6층까지의 도금두께 측정 분석 결과: MS-EXCEL 혹은 HTML 이나 사용자가 지정하는 형식으로 출력 가능 아래는 귀금속과 PVC를 분석한 결과임 Jewelry PVC standards Ele. Given Value Measured Value Pt 100 % 99.99 % Pb 400 ppm 406 ppm 97 % 97.02 % Cd 100 ppm 102 ppm Au Hg 200 ppm 191 ppm 76.3 % 76.18 % Cr 415 ppm 51.8 % 51.67 % Br 500 ppm 520 ppm 분석 조건: 분석시간: 100초 10번 분석한 평균치 분석한 시료는 ICP-AES,MS등으로 습식분석하여 농도가 확인된 시료임 Micro Pioneer # Dae-Ryung Techno Town, Kasan-Dong, Kumcheon-Ku, Seoul Korea T F